金属光谱限量试验

检测项目

1. 受限重金属元素分析：铅，汞，镉，六价铬，总铬。

2. 卤素元素含量测定：氯，溴，总卤素。

3. 碱金属与碱土金属分析：钠，钾，钙，镁。

4. 高纯材料痕量杂质分析：半导体级硅、锗中金属杂质普查。

5. 焊料及镀层成分分析：锡银铜焊料主成分与杂质，金镀层厚度及杂质。

6. 磁性材料元素分析：钕铁硼中主量元素与钴、铜等添加元素。

7. 贵金属含量验证：触点材料中金、银、钯、铂的含量。

8. 合金材料成分符合性鉴定：不锈钢中镍、铬、钼含量，黄铜中铜、锌、铅含量。

9. 迁移性有害元素检测：可萃取铅、可萃取镉。

10. 多环芳烃等有机物中的金属催化剂残留：硅橡胶、环氧树脂中铂、锡催化剂残留。

11. 电池材料元素分析：正负极材料中钴、镍、锰、锂主量及杂质元素。

检测范围

半导体硅片与晶圆、引线框架、键合丝、焊锡膏与焊料、印刷电路板基材与成品、陶瓷基板、电子封装材料、电镀液与化学试剂、磁性元件、连接器与端子、继电器触点、热敏电阻与压敏电阻、电感与变压器磁芯、电池电极材料、导电胶与导热膏、金属外壳与屏蔽罩、电子线缆与绝缘层、光电子器件金属部件、废弃电子电器产品拆解材料

检测设备

1. 电感耦合等离子体发射光谱仪：用于同时测定样品中多种金属元素的含量，检测限低，线性范围宽；适用于溶液样品中主量、微量及痕量元素的快速分析。

2. 电感耦合等离子体质谱仪：用于超痕量金属元素及同位素分析，具有极高的灵敏度与极低的检测限；特别适用于高纯材料中杂质元素的精确测定。

3. 原子吸收光谱仪：用于对特定单一金属元素进行定量分析，仪器结构相对简单，操作便捷；分为火焰法与石墨炉法，后者灵敏度更高。

4. X射线荧光光谱仪：用于对固体、粉末、液体样品进行无损或微损的元素成分快速筛查与半定量、定量分析；可分析元素范围广。

5. 辉光放电质谱仪：用于固体导电材料的深度剖析与体材料中痕量杂质元素的高灵敏度分析；可直接分析块状样品，无需复杂消解。

6. 激光剥蚀电感耦合等离子体质谱联用系统：用于对固体样品进行微区原位分析及元素分布成像；空间分辨率高，可实现样品表面元素分布的直观观察。

7. 微波消解系统：用于将固体样品在高温高压下快速、完全地转化为均匀的酸溶液，为后续光谱分析提供前处理保障；可有效处理难溶样品。

8. 超声波萃取仪：用于按照标准方法对样品中可迁移的金属元素进行温和、可控的萃取处理，模拟实际使用条件下的溶出过程。

9. 十万分之一分析天平：用于精确称量微量样品与标准物质，确保样品前处理及标准溶液配制过程中的称量精度，是定量分析的基础。

10. 超纯水系统：用于制备实验过程中所需的电阻率达到规定要求的超纯水，以最大程度降低由实验用水引入的背景污染与干扰。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.